313,90 €
369,29 €
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
313,90 € 
- Išsiųsime per 10–14 d.d.
313.90
2025-07-06 23:59:00
/https://libri-media.knygos-static.lt/468333e0-fe47-437b-b797-abfd60a49d4c/1)
- Autorius: Gerd Kaupp
- Leidėjas: Springer-Verlag GmbH
- Metai: 2006
- ISBN-10: 3540284052
- ISBN-13: 9783540284055
- Formatas: 16.2 x 24.5 x 1.9 cm, kieti viršeliai
- Kalba: Anglų
- Extra -15 % nuolaida šiai knygai su kodu: ENG15
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching + nemokamas atvežimas! | knygos.lt
Atsiliepimai
EXTRA 15 % nuolaida
313,90 €
369,29 €
Išsiųsime per 10–14 d.d.
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi už 13:40:04
Nuolaidos kodas galioja perkant nuo 10 €. Nuolaidos nesumuojamos.
- Autorius: Gerd Kaupp
- Leidėjas: Springer-Verlag GmbH
- Metai: 2006
- ISBN-10: 3540284052
- ISBN-13: 9783540284055
- Formatas: 16.2 x 24.5 x 1.9 cm, kieti viršeliai
- Kalba: Anglų
Atsiliepimai